System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for TestabilityWydawnictwo: Elsevier S & T Data wydania: 19/07/2010 ISBN: 9780080556802 Forma publikacji: eBook: Fixed Page eTextbook (PDF)
|
449.47 PLN
Produkt dostępny on-line
Dostawa on-line
Do schowka
|
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and TestWydawnictwo: Elsevier S & T Data wydania: 19/03/2009 ISBN: 9780080922003 Forma publikacji: eBook: Fixed Page eTextbook (PDF)
|
526.26 PLN
Produkt dostępny on-line
Dostawa on-line
Do schowka
|
VLSI Test Principles and Architectures: Design for TestabilityWydawnictwo: Elsevier S & T Data wydania: 19/08/2006 ISBN: 9780080474793 Forma publikacji: eBook: Fixed Page eTextbook (PDF)
|
476.89 PLN
Produkt dostępny on-line
Dostawa on-line
Do schowka
|
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and TestWydawnictwo: Morgan Kaufmann Data wydania: 2009 ISBN: 9780123743640 Forma publikacji: książka w twardej oprawie
|
Zapytaj o ten produkt
|
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for TestabilityWydawnictwo: Academic Press Data wydania: 2008 ISBN: 9780123739735 Forma publikacji: książka w twardej oprawie
|
Zapytaj o ten produkt
|