Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications
1. Spectroscopic Ellipsometry: Basic Principles2. Strongly Correlated Systems: Cuprates & Manganites3. Two-dimensional Transition Metal Dichalcogenides4. Single layer graphene systems5. Nickelate Systems6. Future Development and Applications of Spectroscopic Ellipsometry
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