Autorzy | |
Wydawnictwo | Shaker |
Data wydania | |
Liczba stron | 173 |
Forma publikacji | książka w miękkiej oprawie |
Język | angielski |
ISBN | 9783844085174 |
Kategorie | Inżynieria pomiarowa i skalowanie |
Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials